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  • × 2008
  • × INTEGRATED CIRCUITS
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1 Critical Vacancy-Driven Phenomena in High-Energy Ion-Implanted Silicon [科技报告]

作者:Haynes, T E

发布日期:2008

关键词:ATOMS;DEFECTS;...

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2 Determination of late-time Gamma-Ray (60Co) sensitivity of single diffusion Lot 2N2222A transistors. [科技报告]

作者:DePriest, Kendall Russell, Kajder, Karen C., Peters, Curtis D. (American Staff Augmentation Providers, LLC, Albuquerque, NM)

发布日期:2008

关键词:DIFFUSION;INTEGRATED CIRCUITS;...

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3 275 C Downhole Switched-Mode Power Supply [科技报告]

作者:Chris Hutchens, Vijay Madhuravasal

发布日期:2008

关键词:POWER SUPPLIES;INTEGRATED CIRCUITS;...

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